Система J750Ex-HD предназначена для функционального и параметрического контроля сложных микросхем со сверхбольшой степенью интеграции VLSI (Very-Large-Scale Integration) от микроконтроллеров до интегральных схем специального назначения ASIC (Application-Specific Integrated Circuit) при разработке, производстве и испытаниях изделий электронной техники.

Принцип действия системы J750Ex-HD основан на методах функционального и параметрического контроля.

Для проведения функционального контроля на измеряемую микросхему подается входной набор сигналов, при этом выходной набор сигналов от объекта контроля сравнивается с ожидаемым набором сигналов. Формирование входного набора сигналов производится генератором тестовой последовательности и драйверами универсальных измерительных каналов в соответствии с заранее определенной программой контроля. Выходной набор сигналов от объекта контроля преобразуется измерительными каналами в цифровой код, и производится его сравнение с ожидаемыми данными, с отображением результатов контроля.

 

В режиме параметрических измерений используется источник-измеритель PPMU на каждом канале. Параметры источника-измерителя PPMU задаются независимо по каждому каналу. Также используется общий источник-измеритель BPMU на цифровом канальном модуле и измерительные источники питания, при этом на объект подается заданное значение постоянного напряжения (силы тока), и измеряется соответствующее значение силы постоянного тока (напряжения).

Методы параметрического и функционального контроля реализуются с помощью программы, создаваемой пользователем для каждого тестируемого объекта. Создание и вызов программы контроля производятся средствами специализированного пакета программного обеспечения, входящего в комплект поставки.

 

Отличительные особенности:

• до 1024 (или до 2048 – исполнение на 16 слотов) универсальных каналов
• до 400 МГц частота тестового вектора
• до 128Мбит на канал

 

Области применения:

Контроль параметров полупроводниковых компонентов и микросхем на пластине и в корпусе. 

Исследовательские работы с полупроводниковыми компонентами и микросхемами. 

 

Опции:

• Модуль Convert Test Option (CTO) представляет из себя – 8-каналов прецизионных источников тока и измерителей. Каждый канал состоит из источника постоянного напряжения DC, измерителя постоянного тока и двух программируемых эталонов постоянного напряжения.  CTO поставляется как опция и может отсутствовать в конфигурации некоторых системаов. 
• Модуль Memory Test Option (MTO) дает системау J750Ex-HD возможность тестировать автономные или встроенные запоминающие устройства, а так же  предоставляет аппаратное обеспечение для поддержки возможности регистрации «на лету» ошибок при тестировании памяти.  Поставляется как опция и может отсутствовать в конфигурации некоторых системаов.